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JEOL 日本電子株式會社 |
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穿透式電子顯微鏡( TEM, Transmission Electron Microscope ) |
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掃描式電子顯微鏡 (SEM, Scanning Electron Microscope) |
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電子微探儀(EPMA, Electron Probe Microanalysis ) |
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掃描式歐傑電子顯微鏡(SAM, Scanning Auger Microscope) |
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化學分析電子光譜儀(ESCA, Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) |
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掃描探針顯微鏡(SPM, Scanning Probe Microscope) |
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其他化學儀器(如EDXRF, GC-MS,NMR等) |
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美國GATAN公司 |
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TEM試片離子減薄機 (PIPS, Precision Ion Polishing System) |
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SEM 試片蝕刻鍍膜機 (PECS, Precision Etching Coating System) |
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TEM 數位影像CCD |
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電子能量損失光譜儀(EELS, Electron Energy Loss Spectrometer) |
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陰極發光光譜儀(CL, Cathode Luminescence spectrometer) |
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冷/熱SEM 試樣台(Cooling/Heating stage for SEM) |
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TEM 試片座(TEM holder) |
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英國OXFORD公司 |
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能量分散式光譜儀(EDS, Energy Dispersive Spectrometer） |
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波長分散式光譜儀(WDS, Wave length Dispersive Spectrometer） |
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電子背散射繞射分析儀(EBSD, Electron Backscattering Diffraction Analyzer) |
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美國SPI公司 |
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各式標準片 |
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TEM, SEM耗材 |
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鍍碳鍍金機 |
